日本nihonika太陽(yáng)光譜儀S-2440 model Ⅱ

產(chǎn)品型號(hào)：

所屬分類：光源

產(chǎn)品時(shí)間：2025-05-03

簡(jiǎn)要描述：日本nihonika太陽(yáng)光譜儀S-2440 model Ⅱ
太陽(yáng)能光譜儀S-2440modelⅡ設(shè)計(jì)用于太陽(yáng)或太陽(yáng)模擬器光譜輻照度的測(cè)量。儀器的光譜響應(yīng)針對(duì)太陽(yáng)光譜進(jìn)行了優(yōu)化，并且通過(guò)采用具有高靈敏度的檢測(cè)器、高效率的分光儀、高效能數(shù)據(jù)處理程序和軟件，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試的高度精que性。

聯(lián)系我們 在線咨詢

日本nihonika太陽(yáng)光譜儀S-2440 model Ⅱ

摘要

太陽(yáng)能光譜儀S-2440modelⅡ設(shè)計(jì)用于太陽(yáng)或太陽(yáng)模擬器光譜輻照度的測(cè)量。儀器的光譜響應(yīng)針對(duì)太陽(yáng)光譜進(jìn)行了優(yōu)化，并且通過(guò)采用具有高靈敏度的檢測(cè)器、高效率的分光儀、高效能數(shù)據(jù)處理程序和軟件，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試的高度精que性。

特點(diǎn)

新設(shè)計(jì)的電子器件

為了降低溫度和噪聲導(dǎo)致的不穩(wěn)定，所有的電子回路進(jìn)行了新的設(shè)計(jì)，本產(chǎn)品不僅避免了發(fā)射的噪聲，而且抑制了回路中的噪聲。

※1. 與SOMA舊的型號(hào)的比較

針對(duì)太陽(yáng)模擬器的測(cè)試進(jìn)行了優(yōu)化

儀器的光譜響應(yīng)進(jìn)行了調(diào)整，以保證對(duì)太陽(yáng)模擬器的準(zhǔn)確測(cè)試。為了實(shí)現(xiàn)這一特點(diǎn)，儀器在紫外和近紅外區(qū)域的噪音水平進(jìn)行了改善。

脈沖光源的同步測(cè)量

上一代產(chǎn)品只能在脈沖開(kāi)始后對(duì)光譜進(jìn)行測(cè)量。本產(chǎn)品能夠在脈沖開(kāi)始前對(duì)光譜進(jìn)行測(cè)試。這一功能稱為事件觸發(fā)模式。

事件觸發(fā)模式通過(guò)采用重新設(shè)計(jì)的回路和軟件來(lái)實(shí)現(xiàn)。在這一模式下，儀器對(duì)光譜進(jìn)行連續(xù)測(cè)試。因此，脈沖前的光譜可以回歸得到，并且也可以得到脈沖后的光譜。計(jì)時(shí)信號(hào)由嵌入反射型擴(kuò)散板的硅光電二極管產(chǎn)生。計(jì)時(shí)信號(hào)和光強(qiáng)水平可以在0.01~1sun范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整。

采用顯著余弦特征的反射型擴(kuò)散板

尺寸：H15×W60×D80/φ40mm

高持久耐用并且易于保持其特點(diǎn)。本產(chǎn)品具有強(qiáng)的反射和顯著地余弦特征。

注意：當(dāng)光纖和擴(kuò)散器更換時(shí)，需要對(duì)儀器進(jìn)行重新校準(zhǔn)。

光譜匹配評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)

JIS C 8912-2011/IEC 60904-9(ED-2)-2007 （結(jié)晶系太陽(yáng)能電池及組件的太陽(yáng)模擬器）

JIS C 8933-2011（非結(jié)晶系太陽(yáng)能電池及組件的太陽(yáng)模擬器）

JIS C 8942-2009 （多結(jié)太陽(yáng)能電池及組件的太陽(yáng)模擬器）

ASTM（Direct AM1.5、Global AM1.5）-2009

所有標(biāo)準(zhǔn)的太陽(yáng)模擬器的光譜匹配評(píng)價(jià)均可實(shí)現(xiàn)。

光譜匹配（A,B,C）可以在測(cè)試之后立即計(jì)算。

日本nihonika太陽(yáng)光譜儀S-2440 model Ⅱ

光譜輻照度的測(cè)試軟件

測(cè)試參數(shù)

光譜輻照度（μW/cm²/nm）：測(cè)試數(shù)據(jù)以曲線圖的形式示于顯示器中，文本數(shù)據(jù)（間隔1nm）也可以得到。

光譜匹配度：數(shù)據(jù)列表中的任意光譜數(shù)據(jù)均可以進(jìn)行評(píng)價(jià)。所選取的數(shù)據(jù)的光譜匹配度可以立即示于顯示器中。測(cè)試模式

1. 基本測(cè)試 主要用于連續(xù)光測(cè)試

2. 重復(fù)測(cè)試 可固定時(shí)間間隔重復(fù)測(cè)試

3. 事件引發(fā)模式 用于發(fā)射脈沖測(cè)試，引發(fā)脈沖前后的光譜均可得到。

4. 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試 通過(guò)對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)發(fā)光器的光譜輻照度對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行校正。

   事件引發(fā)模式

事件引發(fā)模式檢測(cè)器

1. 可以觀察引發(fā)脈沖的波形

2. 引發(fā)脈沖的光強(qiáng)可以從0.01~1sun范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整。調(diào)整可以通過(guò)拖動(dòng)滑塊SW方便操作。

3. 可以選擇引發(fā)脈沖前后光譜的數(shù)目

4. 可以選擇引發(fā)脈沖之后延遲的時(shí)間

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機(jī)

附光纖反射型擴(kuò)散板（L=0.9m）

觸發(fā)器線纜（L=0.9m）

光譜輻照度測(cè)試軟件

USB線纜（L=2.0m）

交流電適配器（LTE24E-S2-3）

檢驗(yàn)單

主要規(guī)格